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オンライン含水率計 IR 5000（赤外線式）とMWF 5000（マイクロ波式）はドライヤー、ブレンダーの上流及び下流、そしてフォーミングベルト上などにおける材料の含水率を連続して監視するために使用されます。これらの場所における含水率の監視により、材料の過剰な乾燥を認識し、それらを生産ラインの改善につなげる事も可能です。

ブレンダーの下流及びフォーミングステーション内での連続的な材料含水率の監視は、製品の品質を最適で確かなものにします。

 

含水率計IR 5000の構造
含水率計IR 5000は、非接触式の計測ヘッドと含水率計のカリブレーション及び各種設定を行うためのオペレーター用操作盤で構成されています。

 

オペレーター用操作盤は計測ヘッドのそばに設置され、そこでは計測場所における含水率の外部表示盤としても機能します。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

画像：操作用インターフェースとセンサー

また、監視対象箇所において適切なガラス窓を通すことにより、密閉された搬送システム内における材料フロー中の含水率を測定することも可能になります。

測定値はシリアルインターフェースを通じて工場全体のプロセス制御システムに転送可能で、制御室での含水率表示も可能です。

 

また、生産管理の為に、アナログ出力とプログラム可能な警報用接点の供給も可能です。計測ヘッド及びオペレーター用操作盤のハウジングは耐ダスト、耐水使用となっております。

 

測定原理
IR含水率計は、光学式測定トランスデューサーによって機能しています。近赤外線の光線が計測に使用され、材料中の水分によって吸収された光線の分量によって含水率を計測します。これは計測材料中の水分量が高ければ高いほど反射される光線量が少なくなるという事を意味しています。

 

ハロゲンランプから放出される光線は鏡とレンズの組み合わせによって複数の計測及び参照用の光線に分割されます。照射された光線はホイール上フィルターを経由し、過度の領域外のスペクトルはカットされます。残された近赤外線の領域の光線のみが計測される材料の上に投影されます。

 

複数の計測用及び参照用光線への分割とダブルセンサー方式により、外的要因の影響を受けないため、高いシステムの安定性と計測精度を実現します。

 

 含水率計MWF 5000の構造
MWFシリーズの含水率計は、マイクロプロセッサー制御の評価ユニットと2本のマイクロ波用ケーブルで接続された平面センサーで構成されます。

 

 

 

 

 

 

 

MWF 5000は高精度の反響計測原理に基づいて作動され、マイクロ波反響装置の計測領域は材料で覆われます。含水率の大小に応じて結果的に変化する自然周波数、及び半減する波長の強度における変化量が、特許取得済みの変換方式により計測され評価されます。


結果的に密度の影響を受けないサンプル中の含水率が計測値として導き出されます。

 

含水率の測定値は保存可能です。最大40種類（オプションとして最大200）までの異なる製品情報がカリブレーション曲線及び計測データとともに予備バッテリー機能を持つシステムのメモリー内に保存可能です。データはバックアップ機能を持つPCと接続することにより相互にコピー可能です。

 

 

 

 

 

 

画像：操作パネル

操作レベルに応じて設定されるパスワードにより、システムは許可を得ない人間による操作から保護されています。このシステムはユーザーでプログラム可能なアナログ出力、制御及び警報ライン、そしてプリンターやPCにデータ転送可能な２つのシリアルインターフェースを備えています。

 

 

その他の機器との連携
製品、又は材料の特性をより簡単に評価するために、MWF 5000は他のグレコン製計測機器と組み合わせて使用することが出来ます。

グレコン製単重計BWQ 5000と連携された場合には、材料の更なる分析が達成されます。

単重と含水率の複合的な評価により、チップやファイバーマットの乾燥状態における質量が自動的に計算されます。

 

 

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